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產(chǎn)品中心環(huán)境試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)平臺(tái)DE-CR/PST系列芯片環(huán)境試驗(yàn)裝置
DE-CR/PST系列芯片環(huán)境試驗(yàn)裝置
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
product
產(chǎn)品分類| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保 |
微型接觸式環(huán)境試驗(yàn)平臺(tái)DE-CR/PST系列芯片環(huán)境試驗(yàn)裝置的特征：
1、定制化
針對(duì)單顆芯片、微小型樣本、單工位多工位探針臺(tái)接觸式溫度循環(huán)試驗(yàn)量身定制。
2、自動(dòng)化
可實(shí)現(xiàn)遙控、程控、計(jì)算機(jī)控制，便于組成自動(dòng)控制系統(tǒng)。
3、高效、高精度、無(wú)振動(dòng)、無(wú)污染設(shè)計(jì)
防凝露、高精度、高可靠性可連續(xù)工作，不需要任何制冷劑無(wú)污染，無(wú)旋轉(zhuǎn)部件不會(huì)產(chǎn)生回轉(zhuǎn)效應(yīng)，無(wú)震動(dòng)、無(wú)噪音運(yùn)行，安裝容易。
4、適用
適用于小型樣本、配合探針臺(tái)高低溫分析、晶圓、芯片等器件的溫度特性試驗(yàn)。
微型接觸式環(huán)境試驗(yàn)平臺(tái)DE-CR/PST系列芯片環(huán)境試驗(yàn)裝置參數(shù)：
型號(hào) | DE | ||
CR1000 | PST1000 | ||
溫度 | 范圍 | LT4:-40~130℃*1 LT12:-120~130℃可選*1 | -269~600℃可選*2 |
精度 | ≤±0.1℃ | 定制 | |
最大溫差時(shí)間 | ＜1分鐘 | ||
試驗(yàn)區(qū)尺寸L× W (mm) | 43×43、90×50/定制 | 43×43、90×50、210×150/定制 | |
外形尺寸 L×W×H (mm) | 50×50×100、100×60×150/定制 | 50×50×100、100×60×100、225×165×100/定制 | |
容許的環(huán)境條件 | +5~35℃ | ||
電源規(guī)格 | 220V AC 1? 50/60Hz | ||
*1直接制冷*2輔助制冷
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